產(chǎn)品[
NKCV/HS3100 數(shù)顯覆層測厚儀 美國 型號：NKCV/HS3100
]資料
產(chǎn)品名稱:
NKCV/HS3100 數(shù)顯覆層測厚儀 美國 型號：NKCV/HS3100
產(chǎn)品型號:
NKCV/HS3100
產(chǎn)品展商:
國產(chǎn)
產(chǎn)品文檔:
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簡單介紹
NKCV/HS3100 數(shù)顯覆層測厚儀 美國 型號：NKCV/HS3100 本儀器是一種便攜式測量儀,可以快速、*損、精密地進行涂、鍍層厚度的測量。既可用于實驗室，也可用于工程現(xiàn)場。配置不同的探頭，適用于不同場合。是材料保護和生產(chǎn)控制儀器。
NKCV/HS3100 數(shù)顯覆層測厚儀 美國 型號：NKCV/HS3100
的詳細介紹
數(shù)顯覆層測厚儀 美國
型號：NKCV/HS3100 |
貨號：ZH2400 |
產(chǎn)品簡介:
概 述：
本儀器是一種便攜式測量儀,可以快速、*損、精密地進行涂、鍍層厚度的測量。既可用于實驗室，也可用于工程現(xiàn)場。配置不同的探頭，適用于不同場合。是材料保護和生產(chǎn)控制儀器。
適用范圍：
NKVV/HS系列覆層測厚儀采用了磁性和渦流兩種測厚方法，可*損地測量磁性金屬基體( 如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等 )上非磁性覆蓋層的厚度(如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等)及非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導電覆蓋層的厚度(如:琺瑯、橡膠、油漆、塑料等)。
主要功能：
可使用6種測頭(F400、F1、F1/90°、F10、N1、CN02)進行測量；
三種校準方法： 一點校準、二點校準、基本校準；
顯示分辨率： 0.1μm（測量范圍小于100μm）
1μm （測量范圍大于100μm）
有兩種工作方式：直接方式和成組方式
有兩種測量方式：連續(xù)測量和單次測量
有兩種關機方式：手動關機和自動關機
可設置限界：對限界外的測量值能自動報警，并可用直方圖對一批測量值進行分析；
有刪除功能：對粗大誤差及錯誤設置可進行刪除處理；
打印功能：可打印測量測量值、統(tǒng)計值、限界、直方圖
測量范圍： （1）F400探頭、N400探頭：0—400μm
（2）F1探頭、F1/90探頭、N1探頭：0—1250μm
（3）F10探頭：0—10000μm
（4）CN02探頭：10-200μm（根據(jù)測量要求選用不同探頭）
測量精度： 不同探頭精度要求不同
（1）F400探頭、N400探頭：一點校準：（2%+0.７）；二點校準：（1%+0.７）
（2）F1探頭、F1/90探頭、N1探頭、CN02探頭：一點校準：（2%+1）；二點校準：（1%+1）
（3）F10探頭：一點校準：（2%+10）；二點校準：（1%+10）
使用溫度： 0～40℃
外型尺寸： 150×80×30m
重 量： 250g
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功能
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NKCV/HS2100F
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NKCV/HS2100N
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NKCV/HS3100
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NKCV/HS4100
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測量原理
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磁性
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渦流
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磁性/渦流
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磁性/渦流
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測量范圍
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標準配置探頭（F1/N1)：1～1250μm
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測量精度
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±（2%H+1）μm（零點校準）
±[(1～3)%H+1] μm（二點校準）
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統(tǒng)計量
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平均值（MEAN）、值（MAX）、值（MIN）、測試次數(shù)（）、標準偏差（S.DEV)
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存貯和統(tǒng)計
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15個測量值
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測量精度
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±（2%H+1）μm（零點校準）
±[(1～3)%H+1] μm（二點校準）
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零點校準
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二點校準
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刪除功能
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自動關機
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蜂鳴聲提示
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測量方式
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欠壓指示
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錯誤提示
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標準配置
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主機
F1探頭
基體
校準片
說明書
包裝箱
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主機
N1探頭
基體
校準片
說明書
包裝箱
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主機
F1(N1)探頭
基體
校準片
說明書
包裝箱
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主機
打印機
F1(N1)探頭
基體
校準片
說明書
包裝箱
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選配件
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F1、F400、F10測頭
N1、N400測頭
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通訊軟件
F1、F400、F10測頭
N1、N400測頭
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配置：
主機，F(xiàn)1或N1探頭，
基體與試片1套，打印機1臺
http://www.centrwin.com/ProductSearch.aspx?id=2400
NKCV/HS3100 數(shù)顯覆層測厚儀 美國 型號：NKCV/HS3100 |
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