型號測試儀簡介: 導電型號測試儀是采用熱探針及整流導電類型測試方法設計的導電類型多晶型號鑒別的測試儀。 本儀器熱探筆內裝有加熱和控溫組件,自動加熱并使溫度維持在50?60℃范圍內,冷熱探筆在半導體材料上產生的熱電動勢及整流法產生的電勢差經低噪聲、低漂移的集成運算放大器放大后,用液晶顯示器件(LCD)及檢流計指示型號方向。儀器靈敏度分高、低兩檔,可判別大部分非本征半導體材料型號(從高阻單晶到重摻單晶)。 型號測試儀特點: 雙數字表結構使測量*,操作*簡便。 可判別從高阻單晶到重摻單晶**非本征半導體材料型號。 導電型號測試儀指針和液晶數字兩種顯示有機結合,型號檢測萬*一失。 具有靈敏度表設置,高阻硅材料型號的準確測量。 綜合了熱電法和整流法兩種測試型號的方法,是半導體材料型號測量的**表。 冷熱筆和三探針****,大降低測試成本。 具有穩(wěn)定性好、結構緊湊、使用方便等特點。 采用進口元器件,留有*大的系數,**提高了測試儀的性和使用壽命。 具有抗強磁場和抗高頻設備的性能。 型號測試儀適用范圍: 導電型號測試儀適用于西門子法、硅烷法等生產**多晶硅料的企業(yè)。 適用于物理提*生產多晶硅料生產企業(yè)。 適用于光伏拉晶鑄錠及 IC 半導體器件企業(yè)。 適用于科研部門、高等院校及需要**量程測量電阻率的企業(yè)。 型號測試儀參數: 測量范圍 鍺:非本征鍺103~10-4Ω·cm 硅:10+4~10-4Ω·cm 顯示方式:液晶直顯 功 耗:30W 供電電源:AC 220V ±10% 50/60Hz. 使用環(huán)境:溫度:23±2℃ 相對溫度:≤65%
名稱:JKSRPT-TT2 型號:JKSRPT-TT2 名稱:JKX-2008硅材 型號:JKX-2008 名稱:MINIHI-09硅 型號:MINIHI-09 名稱:DQZRT-100硅 型號:DQZRT-100 名稱:JKXT-VI硅材料 型號:JKXT-VI 名稱:NXTM-2B單晶P 型號:NXTM-2B 名稱:NXTPT-VI便攜 型號:NXTPT-VI 名稱:NXTR-1A/1B 型號:NXTR-1A/1B 名稱:SHY-JSTZ-8 型號:SHY-JSTZ-8 名稱:GDSKDY-1四探 型號:GDSKDY-1