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DQZRT-100硅棒電阻率測(cè)試儀
硅棒電阻率測(cè)試儀簡(jiǎn)介：
電阻率測(cè)試儀基于渦流（Eddy Current）測(cè)試，能夠?qū)枇稀⒐璋簟⒐桢V及硅片進(jìn)行*接觸、*損傷的體電阻率測(cè)試。
硅棒電阻率測(cè)試儀主要特點(diǎn)：
電阻率測(cè)試儀采用渦流法測(cè)試硅錠、棒、回爐料體電阻率。
*接觸、*損傷快速測(cè)試。
測(cè)試前*需表面處理。
**對(duì)于多晶，能夠**避免晶界對(duì)測(cè)試的影響。
測(cè)試范圍：0.01-100 ohm.cm (分段測(cè)試）。
可選加*接觸PN型號(hào)測(cè)試功能。
用戶可定義分類范圍。