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SCFJJ-1可控硅測試夾具

SCFJJ-1可控硅測試夾具
SCFJJ-1可控硅測試夾具
型號:SCFJJ-1
產(chǎn)地:
:中慧天誠
價格:面議
有事Q我
服務(wù)專線
010-59488880
可控硅測試夾具適用于大電流可控硅和整流元件的電參數(shù)測試。本夾具結(jié)構(gòu)牢固。下部殼體內(nèi)裝有油壓千斤頂;橫梁上裝有固定的上板;平臺上裝有活動的下板。為保持板平行和被測器件受力的均勻,在下板底部裝有一個Φ10mm的平衡鋼球,安裝時先放好平衡球再裝下板。
注:產(chǎn)品圖片僅供參考,具體請以實物為準
產(chǎn)品價格僅供參考,具體請以訂單合同為準

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可控硅測試夾具功能簡介:
可控硅測試夾具測試普通可控硅、雙向可控硅、快速可控硅時使用的夾具。
讀數(shù)直觀
性高
****
可控硅測試夾具參數(shù):
測量范圍:壓力≤10t
                    板行程>40mm
                     板直徑Ф80、100、120mm
外形尺寸:375×165×600mm
整機重量:30kg
可控硅測試夾具使用方法:
接線
1、測器件通態(tài)(正向)峰值壓降時,主電流引線接于上、下板銅接線板上。而壓降采樣線接于板邊沿的焊片上。
2、可控硅測試夾具測器件正、反向峰值阻斷電壓時,陽、陰引線接于板邊沿的焊片上。
測試壓強的計算(推薦被測器件芯片的陰壓強為 100kg/㎝2)
 被測器件施加壓強值按下式計算:壓強表讀數(shù)=0.49×d2 (MPa)
式 d為被測器件芯片的陰直徑,單位㎝。(芯片直徑小于器件直徑,芯片陰直徑比芯片直徑還要小 4-6mm。計算時須注意)
例:被測器件直徑 52mm,芯片直徑為Φ30mm,如按芯片陰直徑比芯片小4mm計算,則芯片陰直徑為 30-4=26mm=2.6cm
壓強表讀數(shù)=0.49×2.62 =3.3MPa
可控硅測試夾具操作方法:
1、將手輪插入下部園孔中,對正凹口反時針旋轉(zhuǎn)泄壓閥,下板自動回原位,再順時針旋轉(zhuǎn)鎖緊泄壓閥。
2、在下板上放好被測器件,將杠桿插入右側(cè)長孔中千斤頂?shù)募訅罕字?,上下壓杠桿加壓至規(guī)定壓力后,通電測試。
3、試完畢后,反時針旋轉(zhuǎn)手輪,下板自動回原位,取出被測器件。
可控硅測試夾具故障排除:
兩板不平行:檢查是否平衡球脫落。
表壓不穩(wěn)定:可能存在泄壓問題,先檢查泄壓閥是否擰緊,再檢查壓力表接頭是否漏油。如發(fā)現(xiàn)漏油,可先拆下上橫梁螺母,取下上橫梁,再拆下不銹鋼罩,檢查出漏油點,擰緊接頭或*換密封圈。

http://www.ghitest.com/ProductShow_1688.html

SCFBC-013A晶閘管測試儀_晶閘管通態(tài)峰值電壓測試儀
名稱:SCFBC-013A
型號:SCFBC-013A
SCFBC-051晶閘管dv/dt測試儀_晶閘管參數(shù)測定儀
名稱:SCFBC-051晶
型號:SCFBC-051
SCFBC-031晶閘管三項參數(shù)測定儀_晶閘管觸發(fā)電壓測定儀
名稱:SCFBC-031晶
型號:SCFBC-031
LJH-4135失真度儀_自動失真儀_自動數(shù)字低失真度測量儀
名稱:LJH-4135失真
型號:LJH-4135
LJH-4116A半自動數(shù)字低失真度測量儀_失真度儀
名稱:LJH-4116A半
型號:LJH-4116A
NIBJ-2939半導(dǎo)體分立器件測試儀|分立器件綜合參數(shù)測定儀
名稱:NIBJ-2939半
型號:NIBJ-2939
NICT-33C數(shù)字IC測試儀|集成電路測試儀
名稱:NICT-33C數(shù)字
型號:NICT-33C
HCXY-PT1光源預(yù)熱時間測試儀
名稱:HCXY-PT1光源
型號:HCXY-PT1
CHB-12催化元件檢測儀_黑白元件測試儀_催化元件測試儀
名稱:CHB-12催化元件
型號:CHB-12

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